HIWIN晶圆寻边器是一款专为半导体、LED及光电产业设计的自动化高精度对位设备。其采用创新的内嵌式控制器与智能激光传感技术,能在数秒内精准完成晶圆的寻边、中心计算及角度补正,是实现智能制造与高效生产的核心组件之一。
晶圆寻边器是自动化晶圆搬运和加工过程中,用于精确定位晶圆中心与角度的关键传感器。在半导体制造中,晶圆在进入每一道工艺设备前,都必须进行快速而精准的对位,以确保光刻、刻蚀等工序的精度。传统人工或机械式定位方式效率低且易产生误差,而自动寻边器通过非接触式测量,解决了这一瓶颈。
HIWIN的晶圆寻边器(如HPA系列)集成了多项前沿技术,在性能上实现了显著突破:
超高精度与速度:该设备可实现±0.1mm的中心重复精度与±0.2°的缺口角度重复精度。其寻边时间最短可在4.9秒内完成,这对于提升产线节拍至关重要。
创新的All-in-One设计:产品采用内嵌式控制器设计,无需外接独立的控制箱,极大地节省了设备在洁净室内的安装空间。在同等规格下,其体积达到业界最小水平,更易于集成到紧凑的半导体设备中。
广泛的材料适应性:设备搭载智能光透型激光传感器,不仅能检测不透明晶圆,还支持对透明、半透明材料(如玻璃基板、蓝宝石衬底)的轮廓进行可靠侦测,应用范围覆盖半导体、LED及光电面板等多个高端制造领域。
随着半导体器件制程不断微缩,对前道制造与后道封装中的对位精度提出了纳米级的要求。寻边器的性能直接影响到生产的良率与效率。
核心应用场景:该设备主要集成于晶圆搬运机器人、探针台、切割贴膜设备等,负责在上下料瞬间快速“找到”并“对准”晶圆。以8英寸(200mm)晶圆为例,一次微米级的对位偏差就可能导致大量芯片失效,因此高可靠性寻边器是保障投资回报的基础。
设备选型关键参数:除了精度和速度,行业用户在选型时还需重点关注:
洁净度等级:HIWIN该产品洁净度等级为ISO Class 3 (等同于传统Class 1),满足高级别洁净室要求,避免设备自身成为污染源。
兼容晶圆尺寸:需确认设备是否支持产线所用的晶圆尺寸,主流产品通常覆盖100mm至300mm的晶圆直径。
通信与集成接口:设备的通讯协议(如EtherCAT、Profinet)是否与工厂现有的自动化系统无缝对接,直接影响集成效率和稳定性。
半导体设备的自动化与智能化是明确的发展方向。根据行业分析,全球半导体设备市场持续增长,其中用于提升制造效率与良率的自动化子系统(包括精密对位模块)是投资重点之一。晶圆寻边器作为其中的“智能感官”,其技术正朝着更高精度、更快速度、更强抗干扰能力以及AI自学习补偿的方向演进,以应对未来更复杂的制造环境。
进一步了解:如果您需要获取HIWIN晶圆寻边器更详细的技术规格书、具体型号的适配方案或探讨实际集成案例,可以通过其官方网站https://www.hiwincorp.cn/ 查询,或直接联系产品技术人员进行深度对接。
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